近日，我院师生在国际传热传质领域知名期刊Journal of Thermal Science上在线发表了题为“AComprehensive Review for Micro/Nanoscale Thermal Mapping Technology Based onScanning Thermal Microscopy”的综述文章，该论文第一作者为上海第二工业大学能源与材料学院青年教师李一凡，上海第二工业大学能源与材料学院于伟教授为通讯作者。

　　图文摘要：

　　随着材料尺寸减小到微米/纳米级，准确的热物性表征变得具有挑战性，基于扫描探针显微镜(SPM)的扫描热显微镜(SThM)能够以高空间分辨率采集微观定域内的材料热性质。本综述从其发展历史出发，详细介绍了该仪器的工作原理、热探针的发展、测试结果的定量化研究和仪器的多场合应用。本文将仪器的热传递机理部分作为核心部分进行了重点讨论。此外，本文还结合相应的应用实例，对基于SThM平台的新兴技术进行了清晰的总结归纳顾。文章最后讨论了利用SThM进行微纳尺度热测试所面临的挑战和未来的发展前景。 

　　图1. SThM界面传热机制的研究

　　图2. SThM界面传热模型的建立

　　图3. SThM的应用测试应用展示

　　图4.其他与SThM相关的技术

论文链接：https://link.springer.com/article/10.1007/s11630-022-1654-1